ICT检测仪测试盲点的问题

　　不可测零件或不稳定测试程序
　　〔电容〕：
　　小电容并联大电容：C1＝1nf，C2＝1uf（相差10倍以上），
　　C1《《C2，C1无法准确测量。
　　2.电容并联电感：需用交流电信号以相位分离法检测，但有误差，不易测出。
　　(电容并联小电阻)：
　　小电容300PF：标准值易偏高，较受旁路干扰，标准值易变更、不稳。
　　电容极性装反：（他牌之可测率约30～50%，视线路特性而定）,ADSYS ECJ技术百分之100检测,无误漏判。
　　〔电阻〕：
　　电阻并联电容：因为电容之充放电效应,测量值轿标准值偏低，延迟时间不可超过500 M Sec重复测试不可超过5次，测试较不稳。
　　电阻并联电阻：测量值Rx＝R1*R2／(R1+R2)＝须修改标准值，并联电阻若有误差值，不易测试出。
　　电阻并联电感：在直流信号源下是近似短路，所以无法被准确测出。
　　电阻并联跳线：所有的电流皆流经跳线，所以电阻无法被测出。
　　小电阻并联大电阻：大电阻无法量测。（相差20倍以上）
　　〔二极管〕：
　　二极管与电感并联：二极管无法准确测量。
　　二极管与跳线或保险丝并联：二极管无法准确测量。
　　齐纳二极管(Zener Diode)：量测电压为它的崩溃电压，超过系统量测范围。(他牌未加高压测试电路板的机型为10V）
　　二极管并联二极管：无法测量,ADSYS可以用DR Mode测试,可以准确量测。
　　〔其它〕：
　　振荡器(XTAL)功能是否正常。（振荡器是以小电容方式作量测,4MHz以下可以量测漏件）
　　IC之保护二极管并联本身或其它IC之保护二极管，致IC脚空焊或折脚无法量测。
　　单端点之线路断线无法测试。